美商国家仪器(National Instruments)于7/20举办LED多点测试机与测试研讨会

LED 多点测试机与测试研讨会

在 LED 广泛用于液晶电视背光模组以及照明的趋势下，近两年 LED 的需求呈现高速成长，各家LED大厂都以扩充MOCVD机台为主要扩充产能的方式，2011年全球的 LED产量约有1000亿颗，在这么大的产量下，如何提升产能及降低测试成本已成为许多LED厂商的主要课题。

一般LED厂商的空间并没有随着产能等比成长，因此相同的空间 (footprint) 与人力的配置下若能最大可能的降低测试时间便能提升产出，降低测试时间的方法不外乎以下三种：

流程自动化

降低量测的耗时

多点同时测试

降 低量测的耗时是最容易达成的一个项目，只要购买最好最快的仪器就可以达到，但一个LED完整的测试过程中，最花时间的往往不是这个部分，通常在于机构动 作、仪器设备间的同步交握时间以及人工的操作；因此若能将光机电各个项目整合起来，减少每一段流程的等待与消耗就能大幅提升测试速度。

而多点量测一直是业界持续在进行的项目，但往往受限于量测仪器与切换器之间的延迟以及不同位置的待测物校正问题一直无法很顺利的整合。为此，美商国家仪器(National Instruments)与顺英科技合作开发LED自动化多点测试机，并将于2011年7月20日 下午1:30 在新竹科学园区 科技生活馆举办 LED 多点测试研讨会。

在 此多点LED测试系统中，不论是顺逆向电流、SCR 现象、静电放电测试等电学特性，或是亮度、峰值波长、主波长、光谱半高波宽 (FWHM)、色度座标 (CIE)等光学特性，皆可同时做到多颗 LED测试，并维持单点测试相同的精准度，欲知活动详情，请洽03-657-6222#7131 张先生。

报名网页

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图1：NI 与顺英科技合作开发的LED 多点自动测试机


图2：透过 NI LabVIEW 开发的 LED 多点自动测试机软件操作画面